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CSM(含超聲分散) 超細(xì)顆粒粒度儀(激光粒度儀)
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分析儀器 >> 分析儀器 >> 粒度儀.粒度分析儀.微粒儀
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?? 光源功率:20 瓦12 伏鹵素?zé)簦?
?? 粒徑測(cè)量范圍:0.05μm-10.0μm
?? 重復(fù)測(cè)量誤差:< 2%;
TSM 超細(xì)粒度分析儀
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?? 測(cè)量誤差: <3% (用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn));
?? 數(shù)據(jù)輸出:體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表;多
種統(tǒng)計(jì)平均直徑;操作者姓名、單位、樣品名;選用折射
率,測(cè)量時(shí)間等相關(guān)信息。
?? 通訊接口:USB 接口。
?? 樣品池:固定樣品池
?? 測(cè)量分析時(shí)間:正常條件下小于 1 分鐘(從開始測(cè)量到顯
示分析結(jié)果)。
?? 工作環(huán)境溫度:5-30 ℃;
?? 電源:180-240V,50 Hz;
?? 外形尺寸:320X280X120 mm3;
?? 重量:約 3.5 公斤
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CSM 超細(xì)顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器,用于測(cè)量超細(xì)顆粒的粒度分布。本儀器由主機(jī),計(jì)算機(jī)和打印機(jī),儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡(jiǎn)單,測(cè)量時(shí)間短,操作軟件良好的人機(jī)對(duì)話界面等優(yōu)點(diǎn)?蓮V泛用于電子,光學(xué),化工,醫(yī)藥等行業(yè)測(cè)量超細(xì)固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測(cè)顆粒的粒度分布和累積分布的測(cè)量結(jié)果,以及D32, Dv50 等多種平均粒徑和比表面積。

主機(jī)內(nèi)包括光源,光學(xué)系統(tǒng),測(cè)量樣品池,光電信號(hào)轉(zhuǎn)換及放大系統(tǒng),A/D 數(shù)據(jù)采集卡等。主機(jī)輸出信號(hào)通過(guò)USB 電纜與計(jì)算機(jī)的USB口相連接,計(jì)算機(jī)對(duì)主機(jī)測(cè)量進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理,并打印輸出結(jié)果。

 

技術(shù)特點(diǎn)

1.大功率白色光源

2.美國(guó)海洋光學(xué)光譜接收器

3.集多年研究之成果,優(yōu)良消光理論的應(yīng)用

4.優(yōu)良反演算法,保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確

5.USB 接口,儀器與計(jì)算機(jī)分離,可配任意具有USB 接口之計(jì)算機(jī);臺(tái)式、筆記本、移動(dòng)PC 均可;

6.微量固定樣品池,超高感應(yīng)靈敏度,僅需少量樣品

7.軟件個(gè)性化,提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ,方便用戶操作?SPAN lang=EN-US>

8.測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富,保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中,能用任意參數(shù),如操作者姓名,樣品名,日期,時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析,與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享;

9.儀器造型美觀,體積小重量輕;

10.測(cè)量精度高,重復(fù)性好,測(cè)量時(shí)間短;

11.軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇,滿足用戶查找被測(cè)顆粒折射率要求;

12.考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求,只有授權(quán)操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫(kù)讀取數(shù)據(jù)和處理;

 

技術(shù)參數(shù)

光源功率:20 12 伏鹵素?zé)簦?SPAN lang=EN-US>

粒徑測(cè)量范圍:0.05μm10.0μm

重復(fù)測(cè)量誤差:< 2%;

測(cè)量誤差: <3 (用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn));

數(shù)據(jù)輸出:體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表;多種統(tǒng)計(jì)平均直徑;操作者姓名、單位、樣品名;選用折射率,測(cè)量時(shí)間等相關(guān)信息。

通訊接口:USB 接口。

樣品池:固定樣品池

測(cè)量分析時(shí)間:正常條件下小于 1 分鐘(從開始測(cè)量到顯示分析結(jié)果)。

工作環(huán)境溫度:530 ℃;

電源:180240V,50 Hz

外形尺寸:320X280X120 mm3;

重量:約 3.5 公斤

 

工作條件

室內(nèi)溫度:15-35

相對(duì)溫度:不大于85%(無(wú)冷凝)

建議用交流穩(wěn)壓電源1KV,無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。

由于在微量級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量,儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上,并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。

儀器不應(yīng)放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。

設(shè)備必須接地,保證安全和高精度。

室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。

 

工作原理

消光法(Extinction)是光散射顆粒測(cè)量技術(shù)中的一種,又稱濁度法(Turbidimetry)。消光法的基本原理是,當(dāng)光束穿過(guò)一含有顆粒的介質(zhì)時(shí),由于受到顆粒的散射和吸收,使得穿過(guò)介質(zhì)后的透射光強(qiáng)度受到衰減,其衰減程度與顆粒的大小和數(shù)量(濃度)相關(guān),這就為顆粒測(cè)量提供了一個(gè)尺度。與散射光能顆粒測(cè)量方法顯著不同的是,消光法測(cè)量時(shí)所接收的不是顆粒的散射光,而是非散射光(透射光),所以光強(qiáng)較強(qiáng)。光源大都采用白光而不是單色激光,此外,除顆粒粒徑外,消光法還能同時(shí)測(cè)得顆粒的濃度,與其它光散射方法相比,這是它的一個(gè)突出特點(diǎn)。

消光法的原理簡(jiǎn)單,測(cè)量方便,對(duì)儀器設(shè)備的要求較低,測(cè)量范圍相對(duì)較寬,下限為數(shù)十個(gè)納米,上限約10μm 左右,測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確,重復(fù)性好,測(cè)量速度快。因此,該方法不僅在膠體化學(xué),高分子化學(xué)

(1)

式中τ 是介質(zhì)的濁度。

1 消光法測(cè)量原理

 

設(shè)顆粒群在介質(zhì)中的空間分布是無(wú)序而均勻的,即濁度τ 與光程L 無(wú)關(guān),將式(1)沿整個(gè)光程積分

 

(2)

則透射光的強(qiáng)度為

(3)

(3)即是著名的Beer-Lambert 定理,它描述了光在顆粒介質(zhì)中的衰減規(guī)律。

如果被測(cè)量顆粒是球形顆粒,且各個(gè)顆粒的光散射滿足不相關(guān)的單散射,則可知,N 個(gè)粒徑為D,迎光面積為a 的單分散顆粒系(Monodispersion)由于光的散射和吸收而導(dǎo)致的濁度為

 

 

(4)

式中Kext 稱為消光系數(shù)(Extinction Coefficient),是入射光波長(zhǎng)λ、被測(cè)顆粒直徑D、顆粒相對(duì)于周圍介質(zhì)的相對(duì)折射率m(= n ? iη )的函數(shù),可以由經(jīng)典Mie 光散射理論計(jì)算得到。將式(4)代入式(3)后可得

(5)

式中比值I/ Io 稱為消光或消光值。實(shí)際情況下,被測(cè)量的顆粒大多不是單分散顆粒系, 而是有一定尺寸分布范圍的多分散顆粒系(Polydispersion),此時(shí),該介質(zhì)的濁度為

 

 

(6)

代入式(3)后得

 

式中a b 分別是顆粒尺寸分布的下限和上限,N(D)是以顆粒數(shù)計(jì)的尺寸分布函數(shù)或頻度函數(shù)。

由式(5)或式(7)可知,入射光的衰減I /I 0  中包含有顆粒尺寸和濃度(顆粒數(shù))的信息,從而為它們的測(cè)量提供了一個(gè)尺度。為此,消光法可以歸結(jié)為:測(cè)得入射光和透射光的強(qiáng)度Io I 或其比值I /I 0,已知入射光波長(zhǎng)λ,光程L 和被測(cè)顆粒折射率m 后,就可得到顆粒

的尺寸分布函數(shù)N(D)及濃度,此時(shí)體積濃度可表示為

(8)

乘以顆粒的密度后即得其重量濃度。

 

 

2.儀器實(shí)樣

 

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